Wyposażenie pracowni wchodzących w skład Laboratorium Badań Materiałów Monokrystalicznych stanowi aparatura:

• Dyfraktometr rentgenowski MicroSource DY-601 firmy PANalytical – urządzenie umożliwia badanie metodami dyfrakcyjnej topografii rentgenowskiej materiałów monokrystalicznych o wymiarach powierzchniowych około 7cm × 5cm. Dyfraktometr pozwala na wizualizację defektów strukturalnych całej powierzchni badanych kryształów lub określonych jej fragmentów.
• Wysokorozdzielczy dyfraktometr rentgenowski XRT-100 firmy Freiberg Instruments EFG – urządzenie umożliwia badanie metodami dyfrakcyjnej topografii rentgenowskiej oraz metodą Laue, materiałów monokrystalicznych o wymiarach do 10cm; pozwala na określenie orientacji krystalicznej wybranych obszarów próbek oraz na wizualizację defektów strukturalnych całej powierzchni badanych kryształów (około 100cm2) lub określonych jej fragmentów. Dyfraktometr umożliwia również wysokorozdzielczą analizę kryształów, między innymi mapowanie węzłów sieci odwrotnej.
• Dyfraktometr rentgenowski firmy PANalytical wraz z kamerą Bonda i przystawką temperaturową – urządzenie służy do precyzyjnego wyznaczania parametrów sieciowych monokryształów, między innymi kryształów optycznych, np. niobianu strontowo barowego (SrxBa1-xNb2O6). Dodatkowo możliwe jest określenie zmian parametrów sieciowych monokryształów w funkcji temperatury (do 600°C) co może posłużyć do wyznaczenia temperatury przejścia fazowego.
• Dyfraktometr rentgenowski VEM z kamerą Lauego – urządzenie umożliwiające pomiary orientacji krystalicznej oraz wyznaczanie symetrii sieci krystalicznej w wybranych obszarach próbek. Kamery umożliwiają pomiary techniką promieni przechodzących i/lub zwrotnych.
• Mikroskop świetlny Nikon z kamerą CCD do obrazowania struktury materiałów
• Urządzenie elektroiskrowe do bezdefektowego ciecia monokryształów
• Szlifierko-polerka do przygotowywania zgładów metalograficznych